塞規(guī)現(xiàn)貨

• 更新日期：2024-10-27

標(biāo)準(zhǔn)適用于外購和自制的光滑塞規(guī)的檢定。

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一．  塞規(guī)現(xiàn)貨?主題內(nèi)容與適用范圍： 

本標(biāo)準(zhǔn)適用于外購和自制的光滑塞規(guī)的檢定。
 二．  塞規(guī)現(xiàn)貨技術(shù)要求
 1. 標(biāo)準(zhǔn)塞規(guī)是指尺寸公差等級(jí)為IT0～I(xiàn)T2的孔用定值量具。 

2. 當(dāng)尺寸公差小于等于0.001毫米時(shí)，圓度和圓柱度誤差應(yīng)在其尺寸公差范圍內(nèi)。 當(dāng)尺寸公差小于等于0.002毫米時(shí)，圓度和圓柱度誤差應(yīng)小于等于0.001毫米。 當(dāng)尺寸公差大于0.002毫米時(shí)，圓度和圓柱度誤差為塞規(guī)尺寸公差的50%。

三．   ?檢定要求和檢定方法
 1． 外觀 

1.1. 要求：測(cè)量面不應(yīng)有銹跡、毛刺、黑斑、劃痕等缺陷。使用中的不應(yīng)有明顯影響外觀

和使用質(zhì)量的缺陷。標(biāo)志尺寸以mm為單位，應(yīng)正確、清楚。
 1.2. 檢定方法：目力觀察。 
2． 硬度 
2.1 要求： 

測(cè)量面的硬度不低于HRC60。
 2.2 檢定方法 

用洛氏硬度計(jì)對(duì)自制的新塞規(guī)進(jìn)行抽樣檢定，外購的不進(jìn)行檢定。 
3． 表面粗糙度
 3.1 要求： 

表面粗糙度Razui大允許值為0.05μm。 
3.2 檢定方法 

用表面粗糙度比較樣板進(jìn)行比較檢定。當(dāng)有爭(zhēng)議時(shí)用表面粗糙度檢定儀檢定。
 4． 圓度和圓柱度 

4.1      圓度和圓柱度的要求： 

見技術(shù)要求2。
 4.2     檢定方法： 

       選擇刀口測(cè)帽，用立式激光測(cè)長儀直接測(cè)量，或用立式光學(xué)計(jì)用4等量塊比較測(cè)量，其圓度、圓柱度由測(cè)得的zui大尺寸與zui小尺寸之差來確定。圓柱度在測(cè)量面全長不少于3個(gè)位置測(cè)量，園度在同一長度位置上不少于2點(diǎn)測(cè)量。